测试基础在微米量级的变形有何手段？

bulingshan · 发表于 2008-2-26 12:25

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最近遇到一个问题：大体积基础在受到静载作用下，其变形量一般在几个微米左右，如何组织一个试验测试这一变形的具体量值》？

Jonah_K500 · 发表于 2008-2-26 12:43

我有用过位移传感器量测电路板的形边. 可以测试到微米级.
好象听说可以选用更高精度的传感器提高精度.可以精确到0.1微米,甚至更小

mjhzhjg · 发表于 2008-2-26 21:08

大体积基础有多大？是什么材料？

szdlliuzm · 发表于 2008-2-27 23:31

测试基础变形只能是用电阻应变片来测试了，关键的问题是应变片的测试点取在什么位置上。

piezolee · 发表于 2008-2-28 17:13

方法很多，电容，电感，应变片。
displacement sensor (phototonic sensor),
ultrasonic
激光.

有钱, 卖sensor 最简单

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试试位移传感器