一、本振动试验中夹具的影响：从正弦和随机的控制谱图来看，我认为，夹具对这两个试验影响不一定是主要的。
可请楼主按如下方法来试验：
将硬盘从电脑上取下，将测量点改到压条上即压电脑的横梁上，测量夹具的响应曲线。
将硬盘从电脑上取下，将测量点改到硬盘的固定点上。
单独把硬盘放在夹具上进行相同条件的振动试验，并测量硬盘的响应曲线。
对照四个不同的测量点的测量曲线，就可以判断是哪个因素引起共振了。几个因素是：硬盘自身问题（这个可能性最小）、夹具的频响差、机箱的安装结构强度不够、硬盘的减振器不好或减振器没有装好，造成在120Hz左右成为了共振。
因为我拆开过工控机，工控机的硬盘下装有减振橡胶件， 如此大的尖锐的共振一定是一个大东西的共振，小小一个磁盘恐怕引不起如此大的峰，夹具共振可能性最大。
现在硬盘的振动测量曲线如何
saventang :你好！请问现在硬盘的振动测量曲线如何呢？测量点的共振与夹具无关
在本帖子的讨论中，有意见认为硬盘测量点上共振是因为夹具的刚性不够造成的。我的看法是硬盘测量点上共振与夹具的刚性没有关系。一、振动试验的控制点是在台面上，夹具（是指压条和螺丝 ）与台面是刚性连接即螺丝连接的，如果是压条的在150Hz左右共振时，必然会对台面造成影响，即会在控制点曲线上反映出来的，控制点的曲线相当的平稳，看不出试件与台面夹具有共振的迹象。
二、格子状的台面的上限频率一般是在350Hz，压条用螺丝连接的共振频率一般也可可以超过500Hz，并且是试验的量级不大，才1G，因此说夹具产生共振最大的原因是夹具或台面的螺丝没有锁紧，造成连接刚度不够。
三、最关键的一点是测量点是在硬盘上的，而不是在夹具上，而图片显示，夹具是固定在机器的外箱上，并不是固定是硬盘上，即从力的传递或连接方式来说，硬盘与夹具并没有直接的刚性连接，也即夹具与硬盘没有直接的力的传递，因此硬盘上测量的数据不能代表是夹具的振动数据。
四、真实的振动试验是个多自由度的系统，只有在假设系统的刚度足够大时，才能以一点代表全面。 在现实与假设不相符合时，就会得到错误的结论了。
我也来说说
如果测点是在硬盘上，那么在这个振动系统中，在那两个峰值处，硬盘就参入在共振中，只不过是不是系统的最大振幅处和夹具有关．另外这个试验做的不是硬盘本身的共振．我们不是做模态，夹具做的好当做好，可是我们换个思路，能不能夹具和振动台看成一体，那么我们做产品的振动考验时不就轻松多了[ 本帖最后由 yezichang 于 2007-4-27 16:21 编辑 ] 我觉得lz应该先看看这个硬盘的spec，看看试验时硬盘的振动响应是否超过的其spec规定的范围。
我们通常在做系统开机试验的规范扫频是0.25G,而你的都在2G了，做随机频谱密度在0.001g2/Hz左右，而lz的是0.002,我怀疑就算系统设计完美，没有共振峰，系统也未必能承受这么苛刻的试验。
看来优化难度比较大，需要做减振，要较大的成本。
关于夹具：
好的夹具是试验结果可信度的根本，有时夹具很难做到在整个试验频率范围内不发生共振，所以应该选择较高阻尼的材料，如2024铝。整个个夹具质量要比样品轻很多，这样就算夹具有共振对样品影响也不会很大。评价夹具的好坏要从整个系统来考量，因为测试参数，样品，夹置方式对夹具共振频率都会有较大影响。在试验进行时监测夹具和样品接触部位的振动情况才是根本。
关于减振：
环境的振动情况超过了硬盘的spec要求，必然需要做减振。如果把系统和硬盘的连接部分简化成弹簧，从扫频图上看共振峰发生在140Hz左右，需要把这个共振峰移到50Hz以下对硬盘来说伤害相对比较小的频率范围，需要减小这个弹簧的k值。优化后系统对盘施加的振动在50×1.414=70Hz后进入减振范围，频率越高减振越明显。 大家注意： 控制点是在扩展台面的（台面是800*800MM），而测量点是在硬盘上，而在工控机的硬盘与电脑机箱的连接是通过减振器来连接的，即硬盘与机箱并不是刚性连接的。因此硬盘上的测量曲线并不能代表控制点的振动状况。
从此测量曲线说明硬盘的减振动装置应做改善了。 我觉得还是夹具的原因，明显太大了。建议先做一个夹具的振动试验，参数和谱线不变。如果仍然出现类似的共振现象，那就可以验证了。
如果确实是夹具的原因，那我觉得应该减少它的质量，也就是做的再小巧些，这样它的一阶共振频率可以提高一些。
回复 #23 gavin 的帖子
请注意: 测量点是在硬盘上,而不是在夹具上. 所以#23建议先做一个夹具的振动试验，排除一下，思路是对的。 “看图中谱线，此控制软件应该是我们公司产品，有具体软件方面问题可以与我公司技术支持部门联系，将给予你最完善的解决方案”loren_xia ，请问我使用的LDS-Dactron控制器是你们公司的吗？如果是，想请问两个问题：
1.在测试曲线中，可以改变曲线的粗细和名称吗?比如：将input 3(f) 改成HDD或者其他；
2.我可以将相同条件下连续两次测试的曲线，集合在一个界面中显示出来，以便直观的比较吗？ 如果，排除测试固定及夹具的原因，单单从保护硬盘的角度讲，我们公司倒是专门提供高阻尼的减振材料，及减振方案，对HDD的保护我们公司有丰富的经验。如果有需要可以浏览我公司网站，或直接咨询。www.earsc.com电，话：0755-83591843
回复 #26 tandy_tan 的帖子
软件设置中可以改变曲线的颜色. 本帖最后由 wdhd 于 2016-4-26 13:28 编辑发表一下个人观点：
楼主的问题是在测试过程中的问题是在试验过程中G值太大，导致试验宕机。
那先明确一个问题，工厂在做这种试验时，sensor不是接在硬盘上，而是接在振动平台上，这样符合国际和国内对产品规格一个统一的认知，夹具不合理那当然是自身的问题了。
楼主用整台电脑来验证HDD的振动频率，是否有试验目的不明的问题：
1.既然是验HDD，那除了固定电脑的夹具不合理外，其整台电脑是否也可看作夹具呢，这样看的话，整台电脑也是不需要的。只需对HDD设计一个小夹具就可以了。
简单地说，对什么产品做验证，直接对该产品作一个合理的夹具就好了，多余的东西一概不要。
且sensor是接在振动机的平台上。理论上来说，能量从振动平台上要100%传递到产品上，但实际上是做不到的，能做到的是要将能量损失控制到一个误差范围内。如果这也做不到，说明夹具很有问题，先解决夹具的问题再说。
回复 #29 hslj4742 的帖子
楼主的振动试验里有两个传感器，控制点的传感器从图片中可以看到是在台面上，格子状的台面上限频率一般是在350Hz以上，使用的上限频率是350Hz，注意看控制点的曲线是定加速度，实际的控制曲线是条直线，其实就以说明了控制点的振动控制是正常的。第二点是测量点，是安装在硬盘上的，不知道大家有没有看过工控机的硬盘并不是直接固定机箱上的，而是通过减振器（缓冲装置）而与机箱连接的。
因此硬盘上的测量曲线是硬盘缓冲装置的振动特性曲线。这条曲线与台面和夹具没有任何关系。
大家在观念上要转变下：一个物体进行振动试验时各部分的振动幅值并不相同的，不能用测量点振动曲线来反推控制点，因为我们的试件并不是一个绝对的刚体。